Стрикинг-метод является одним из ключевых инструментов аттосекундной физики, позволяющим измерять временные характеристики электронных процессов с субфемтосекундным разрешением. Его основа заключается в регистрации фотоэлектронов, эмитированных под действием аттосекундного импульса, при этом их кинетическая энергия модулируется синхронным инфракрасным (ИК) полем, выступающим в роли «стробоскопа».
В момент выхода электрона из атома или твердотельной системы он попадает в осциллирующее электрическое поле ИК-излучения. Это поле изменяет конечный импульс электрона в зависимости от фазы колебаний ИК-волны. Таким образом, точка выброса электрона по времени кодируется в распределении его импульсов.
Ключевым уравнением метода является связь между финальной скоростью электрона и векторным потенциалом ИК-поля:
pf(t) = p0 − eA(t)
где pf(t) — конечный импульс электрона, p0 — начальный импульс, связанный с поглощением фотона аттосекундного импульса, e — заряд электрона, A(t) — векторный потенциал ИК-поля в момент выхода электрона.
Такое уравнение позволяет непосредственно привязывать измеренные энергетические сдвиги к времени ионизации.
Разрешающая способность стрикинг-метода определяется как длительностью аттосекундного импульса, так и крутизной изменения ИК-поля. В идеальном случае она ограничивается сотнями аттосекунд, что позволяет исследовать:
Современные исследования направлены на расширение метода в сторону многомерного стрикинга (multi-dimensional streaking), где измеряется не только энергия, но и угловое распределение фотоэлектронов. Это позволяет реконструировать не просто момент ионизации, но и динамику орбитальных форм и коррелированных электронных состояний. Также активно развивается использование стрикинг-метода в комбинации с твердотельными мишенями и наноструктурами для изучения сверхбыстрых процессов в конденсированных средах.