Фотоэмиссионная спектроскопия (Photoemission Spectroscopy, PES) — это мощный метод исследования электронной структуры материалов, основанный на явлении фотоэффекта. Основная идея заключается в возбуждении электронов вещества фотонами с последующим измерением энергии и направления вылетающих электронов. Данный метод позволяет напрямую изучать энергетические уровни, плотность состояний и спиновые характеристики электронов, что делает его ключевым инструментом в физике конденсированных сред, магнитных материалов и поверхностной науки.
При облучении материала фотонами с энергией hν электроны могут быть выбиты из его внутренней структуры. Энергия выбитого электрона Ek определяется законом сохранения энергии:
Ek = hν − ϕ − Eb,
где:
Измеряя кинетическую энергию Ek, можно восстановить электронную структуру материала, включая положение валентных и внутренних энергетических уровней.
Существует несколько разновидностей PES, каждая из которых ориентирована на определённые аспекты электронного строения:
Ультрафиолетовая фотоэмиссионная спектроскопия (UPS) Использует ультрафиолетовое излучение (hν ∼ 10 − 100 эВ) и позволяет изучать валентные электроны и плотность состояний около уровня Ферми. UPS особенно полезна для анализа поверхностных слоев материала, так как длина свободного пробега электронов в твердом теле мала при такой энергии.
Рентгеновская фотоэмиссионная спектроскопия (XPS) Применяет рентгеновские фотоны (hν ∼ 200 − 2000 эВ) для изучения внутренних оболочек атомов. XPS позволяет определять химическую среду атомов и идентифицировать элементный состав материала с высокой точностью. Сдвиг энергетических уровней (chemical shift) в XPS обеспечивает информацию о степени окисления и межатомных взаимодействиях.
Угловая разрешённая фотоэмиссионная спектроскопия (ARPES) Измеряет не только энергию, но и угловое распределение вылетающих электронов, что даёт прямой доступ к дисперсионным законам электронов в кристалле. ARPES позволяет строить карты зонной структуры и исследовать свойства полупроводников, металлов и высокотемпературных сверхпроводников.
Спин-резолвированная фотоэмиссионная спектроскопия (SARPES) Позволяет определять спиновую поляризацию электронов, что особенно важно для изучения магнитных материалов, топологических изоляторов и спинтроники.
Энергетическое разрешение PES определяется качеством фотонного источника и точностью электронного анализатора. Для UPS оно обычно составляет десятки миллиэлектронвольт, для XPS — сотни миллиэлектронвольт. Угловое разрешение критично для ARPES и определяется конструкцией детектора и размерами щелей. В современных экспериментах достигаются разрешения до 0.1° и ниже, что позволяет детально изучать дисперсионные кривые электронов.
Фотоэмиссионная спектроскопия чувствительна к поверхностным слоям из-за ограниченной длины свободного пробега электронов в твердом теле. Это позволяет выделять тонкие поверхностные состояния, интерфейсы и адсорбированные атомы, но требует осторожной интерпретации для анализа объёмной электронной структуры.
Для увеличения глубины анализа используют более высокоэнергетические фотоны (Hard X-ray PES, HAXPES), что расширяет толщину измеряемого слоя до десятков нанометров.
В магнитной физике PES используется для:
Особое значение имеет сочетание ARPES и SARPES, позволяющее связывать дисперсионные свойства электронов с их спиновой поляризацией, что критично для понимания механизмов спинтронного транспорта.
Основные элементы установки PES включают:
Современные установки позволяют проводить измерения при низких температурах, что важно для изучения фазовых переходов, магнетизма и сверхпроводимости.
Фотоэмиссионная спектроскопия является неотъемлемым инструментом современной магнитной физики, предоставляя уникальные возможности для исследования электронных и спиновых свойств материалов с атомарным разрешением.