Динамика носителей заряда — электронов и дырок — является фундаментальной областью полупроводниковой физики, определяющей работу большинства современных электронных и оптоэлектронных устройств. Поведение носителей определяется их взаимодействием с кристаллической решёткой, примесями, дефектами и внешними полями.
Существуют два основных механизма движения носителей заряда: дрейф и диффузия.
Jдр = qnμnE + qpμpE,
где q — элементарный заряд, n и p — концентрации электронов и дырок, μn и μp — их подвижности, E — электрическое поле.
Jдиф = qDn∇n − qDp∇p,
где Dn и Dp — коэффициенты диффузии электронов и дырок. Связь между подвижностью и коэффициентом диффузии определяется уравнением Эйнштейна:
$$ D = \frac{k_B T}{q} \mu, $$
где kB — постоянная Больцмана, T — температура.
Электроны и дырки в реальном кристалле сталкиваются с атомами решётки и примесями, что приводит к рассеянию и ограничивает подвижность. Основные процессы рассеяния:
Подвижность носителей определяется суммарным влиянием всех механизмов рассеяния:
$$ \frac{1}{\mu_{\text{эфф}}} = \frac{1}{\mu_{\text{фонон}}} + \frac{1}{\mu_{\text{имп}}} + \frac{1}{\mu_{\text{деф}}}. $$
Концентрация электронов и дырок в полупроводнике определяется балансом процессов генерации и рекомбинации:
Эти процессы описываются уравнением непрерывности:
$$ \frac{\partial n}{\partial t} = G_n - R_n + \frac{1}{q} \nabla \cdot \mathbf{J}_n, \quad \frac{\partial p}{\partial t} = G_p - R_p + \frac{1}{q} \nabla \cdot \mathbf{J}_p, $$
где G и R — скорость генерации и рекомбинации, а J — полный ток носителей.
В полупроводниках с градиентом легирования или температурным градиентом динамика носителей усложняется. Появляются дополнительные эффекты:
Полное уравнение тока в таких условиях имеет вид:
J = qnμnE + qDn∇n + qnμnEтермо,
где Eтермо — термоэлектрическое поле, индуцированное градиентом температуры.
В фемтофизике изучается динамика носителей на ультракоротких временных масштабах (10⁻¹⁵–10⁻¹² с). На этих масштабах проявляются:
Фемтосекундная спектроскопия позволяет наблюдать эти процессы в реальном времени, отслеживая появление и исчезновение носителей с субпикосекундной разрешающей способностью.
Для описания динамики носителей в сложных структурах используют численные методы:
Эти методы позволяют предсказывать токи, плотности носителей и их распределение в реальном времени и пространстве, что критически важно для проектирования высокоскоростных полупроводниковых устройств.
Понимание процессов переноса заряда лежит в основе:
Носители заряда в полупроводниках являются не только фундаментальной величиной для физики твердого тела, но и ключевым элементом современной электроники и фотоники, где временные и пространственные масштабы динамики определяют быстродействие и эффективность устройств.