Механизмы электропроводности в полупроводниках
В полупроводниках перенос электрического заряда осуществляется электронами в зоне проводимости и дырками в валентной зоне. В отличие от металлов, где число носителей практически не зависит от температуры, в полупроводниках концентрация носителей заряда определяется температурой, степенью легирования и воздействием внешних факторов (свет, радиация, электрическое поле).
Важнейшей особенностью полупроводников является существование зонного зазора Eg, разделяющего валентную и зону проводимости. При температуре T > 0 часть электронов получает достаточную тепловую энергию, чтобы преодолеть этот зазор, переходя в зону проводимости, оставляя в валентной зоне дырки. Эти дырки ведут себя как квазичастицы с положительным зарядом и эффективной массой, определяемой кривизной верхней части валентной зоны.
Собственная проводимость
Для чистого, ненагруженного примесями полупроводника (собственный полупроводник) концентрации электронов n и дырок p равны:
n = p = ni
где ni — собственная концентрация носителей, зависящая от температуры по закону:
$$ n_i = A T^{3/2} \exp\left(-\frac{E_g}{2k_B T}\right) $$
Здесь A — константа, зависящая от эффективных масс электронов и дырок, kB — постоянная Больцмана, Eg — ширина запрещенной зоны.
При низких температурах ni чрезвычайно мало, поэтому проводимость близка к нулю. С ростом температуры экспоненциальный множитель быстро увеличивает концентрацию носителей, что приводит к росту проводимости.
Примесная проводимость
Введение в кристалл атомов примесей изменяет электронный баланс. Различают два основных типа легирования:
Энергетические уровни примесей располагаются внутри запрещенной зоны близко к краям зон. Для доноров уровень находится на энергии Ed ниже дна зоны проводимости, а для акцепторов — на энергии Ea выше вершины валентной зоны. Ионизация примесей требует гораздо меньшей энергии (десятые доли электрон-вольта), чем переход через весь зонный зазор.
Температурная зависимость проводимости
Температурное поведение электропроводности σ(T) полупроводников можно разделить на три области:
График зависимости log σ от 1/T показывает два линейных участка: один соответствует энергии ионизации примесей, другой — половине ширины запрещённой зоны.
Подвижность носителей заряда
Подвижность μ характеризует способность носителей перемещаться под действием электрического поля:
vd = μE
где vd — дрейфовая скорость, E — напряжённость поля.
Подвижность ограничивается процессами рассеяния:
С ростом температуры рассеяние на фононах усиливается, уменьшая подвижность (μ ∝ T−3/2), но при очень низких температурах доминирует рассеяние на примесях, и подвижность растёт с температурой.
Общая формула проводимости
Электропроводность полупроводника с учетом электронов и дырок описывается уравнением:
σ = q(nμn + pμp)
где q — заряд электрона, μn и μp — подвижности электронов и дырок.
В собственном полупроводнике n = p = ni, и проводимость принимает вид:
σ = qni(μn + μp)
В легированных образцах одно слагаемое в скобках доминирует в зависимости от типа проводимости.
Влияние внешних факторов