Эффект Холла заключается в возникновении поперечного электрического поля в проводнике или полупроводнике, по которому течёт электрический ток, при воздействии внешнего магнитного поля. Это явление было открыто Эдвином Холлом в 1879 году и стало фундаментальным методом исследования свойств твердых тел, в частности полупроводников.
При протекании электрического тока через пластинку полупроводника носители заряда (электроны или дырки) движутся с некоторой средней скоростью дрейфа. Если на систему действует магнитное поле, направленное перпендикулярно к плоскости образца, на носители действует сила Лоренца. В результате носители отклоняются в направлении, перпендикулярном как к направлению тока, так и к направлению магнитного поля. Это приводит к накоплению зарядов на противоположных границах образца и возникновению электрического поля, называемого холловским.
Рассмотрим тонкую прямоугольную пластину полупроводника, через которую пропускается ток вдоль оси x. Внешнее магнитное поле прикладывается вдоль оси z, то есть перпендикулярно плоскости пластинки. Под действием силы Лоренца носители отклоняются вдоль оси y, в результате чего на границах образца возникает разность потенциалов.
Напряжение, измеренное вдоль оси y, называется холловским напряжением:
UH = Ey ⋅ w
где Ey – напряжённость электрического поля Холла, w – ширина образца в направлении оси y.
Сила Лоренца, действующая на носитель заряда q, имеет вид:
F = q(vd × B),
где vd – скорость дрейфа носителя, B – магнитная индукция.
Отклонение носителей под действием этой силы приводит к накоплению зарядов на краях пластинки. В установившемся режиме сила Лоренца уравновешивается кулоновской силой электрического поля Холла:
qEy = qvdB.
Отсюда следует:
Ey = vdB.
Так как скорость дрейфа выражается через плотность тока:
$$ v_d = \frac{j}{n q}, $$
где n – концентрация носителей заряда, то напряжённость холловского поля равна:
$$ E_y = \frac{jB}{nq}. $$
Подставляя выражение для плотности тока $j = \frac{I}{wt}$, где I – ток через образец, t – толщина пластинки, получаем формулу для холловского напряжения:
$$ U_H = \frac{IB}{nqt}. $$
Здесь вводится важная характеристика – коэффициент Холла:
$$ R_H = \frac{1}{nq}. $$
Таким образом:
$$ U_H = R_H \cdot \frac{IB}{t}. $$
Знак напряжения Холла зависит от знака носителей заряда:
Это свойство позволило использовать эффект Холла для определения типа проводимости в полупроводниках. Если знак холловского напряжения отрицателен, материал обладает электронной (n-) проводимостью; если положителен — дырочной (p-) проводимостью.
В экспериментальных условиях измерение эффекта Холла осуществляется следующим образом:
Измерив величину UH, зная ток, толщину и магнитное поле, можно вычислить коэффициент Холла и, следовательно, концентрацию носителей заряда.
Эффект Холла является фундаментальным методом для определения концентрации носителей заряда:
$$ n = \frac{1}{q R_H}. $$
Если дополнительно измерить электропроводность материала:
σ = nqμ,
где μ – подвижность носителей, то, совместно с результатами эксперимента Холла, можно определить подвижность носителей:
μ = σRH.
Таким образом, измерения эффекта Холла дают доступ к двум важнейшим характеристикам полупроводников — концентрации и подвижности носителей.
Температурная зависимость. В полупроводниках концентрация носителей изменяется с температурой, что отражается и на величине холловского напряжения. При низких температурах эффект Холла определяется примесными носителями, при высоких – собственными.
Сложные спектры носителей. В ряде материалов возможна смешанная проводимость, когда в переносе тока участвуют и электроны, и дырки. В этом случае коэффициент Холла выражается более сложной зависимостью, включающей вклады от обоих типов носителей.
Анизотропия. В кристаллах с анизотропными энергетическими зонами коэффициент Холла зависит от кристаллографического направления.
Высокие магнитные поля. В сильных магнитных полях поведение холловского напряжения становится нелинейным, и наблюдаются квантовые эффекты (квантовый эффект Холла).
Эффект Холла, таким образом, является не только фундаментальным физическим явлением, но и важнейшим инструментом экспериментальной физики полупроводников, позволяющим глубоко исследовать электронные свойства материалов.