Оптические константы полупроводников — это параметры, описывающие взаимодействие электромагнитного излучения с материалом. К ним относят показатель преломления n(ω), коэффициент поглощения α(ω), мнимую часть показателя преломления (коэффициент экстинкции) k(ω), а также диэлектрическую проницаемость ε(ω), которая является комплексной величиной.
Эти параметры непосредственно определяют процессы прохождения, отражения и поглощения света в полупроводниках, а также фундаментальные свойства электронного спектра. В отличие от металлов и диэлектриков, оптические характеристики полупроводников зависят от ширины запрещённой зоны, зонной структуры, наличия примесей и температуры.
Взаимодействие света с полупроводником описывается через комплексный показатель преломления:
ñ(ω) = n(ω) + ik(ω),
где:
Амплитуда электромагнитной волны в среде убывает как:
$$ E(z) = E_0 e^{i\omega t - i \frac{\omega}{c} n z} e^{- \frac{\omega}{c} k z}. $$
Таким образом, k напрямую определяет коэффициент поглощения:
$$ \alpha(\omega) = \frac{2 \omega k(\omega)}{c}. $$
Другой способ описания оптических свойств — использование комплексной диэлектрической функции:
ε(ω) = ε1(ω) + iε2(ω),
где:
Между ε(ω) и ñ(ω) существует связь:
ε(ω) = [n(ω) + ik(ω)]2.
Следовательно:
ε1 = n2 − k2, ε2 = 2nk.
Поглощение света в полупроводниках связано с межзонными и внутризонными переходами электронов. Основные механизмы:
Межзонные переходы – возбуждение электрона из валентной зоны в зону проводимости. Край поглощения определяется шириной запрещённой зоны Eg.
Поглощение за счёт примесей и дефектов – приводит к появлению дополнительных полос в спектре.
Внутризонные переходы – характерны для сильно легированных полупроводников и полуметаллов.
Зависимость показателя преломления n(ω) от частоты определяется каузальными соотношениями Крамерса–Кронига. Известно, что:
$$ n(\omega) - 1 = \frac{c}{\pi} \mathcal{P} \int_0^\infty \frac{\alpha(\omega')}{\omega'^2 - \omega^2} d\omega', $$
где ???? — главное значение интеграла.
Таким образом, если известен спектр поглощения α(ω), то показатель преломления может быть вычислен теоретически.
Оптические константы полупроводников определяются экспериментально методами:
Коэффициент отражения выражается как:
$$ R(\omega) = \left| \frac{\tilde{n}(\omega) - 1}{\tilde{n}(\omega) + 1} \right|^2. $$
$$ \varepsilon(\omega) = \varepsilon_\infty - \frac{\omega_p^2}{\omega^2 + i\gamma \omega}, $$
где ωp — плазменная частота, γ — частота столкновений.
Оптические константы полупроводников критически важны для:
Знание этих параметров позволяет прогнозировать поведение материала в различных диапазонах частот и оптимизировать его использование в современных полупроводниковых технологиях.