Подвижность носителей заряда является одной из ключевых характеристик полупроводников, определяющей их электрические свойства и поведение в электрических полях. Она показывает, с какой скоростью носители заряда (электроны или дырки) перемещаются под действием приложенного электрического поля.
Математически подвижность определяется как:
$$ \mu = \frac{v_d}{E}, $$
где
Таким образом, подвижность характеризует эффективность преобразования внешнего электрического поля в направленное движение носителей.
В отсутствии поля электроны и дырки совершают хаотическое тепловое движение, при котором суммарный ток равен нулю. При наложении электрического поля носители приобретают упорядоченную составляющую скорости — дрейфовую скорость.
Закон, связывающий токовую плотность с электрическим полем, записывается как:
j = qnμE,
где
Из этой зависимости видно, что подвижность напрямую влияет на электропроводность материала. Чем выше подвижность, тем меньшие напряжения нужны для получения значительных токов.
Подвижность определяется соотношением между ускорением носителя в электрическом поле и процессами рассеяния, которые ограничивают его движение. При каждом столкновении с примесями, дефектами или фононами (колебаниями кристаллической решётки) носитель теряет часть энергии и изменяет направление движения.
Среднее время между столкновениями называется временем релаксации (τ). С учётом эффективной массы носителя (m*) подвижность можно выразить как:
$$ \mu = \frac{q \tau}{m^*}. $$
Это уравнение показывает:
Подвижность сильно зависит от температуры, так как механизмы рассеяния изменяются.
Низкие температуры — основной механизм рассеяния связан с ионизованными примесями. Подвижность возрастает при увеличении температуры, так как тепловое движение экранирует кулоновское поле примесей и ослабляет рассеяние.
Высокие температуры — доминирует рассеяние на акустических и оптических фононах. С ростом температуры число колебаний решётки увеличивается, что приводит к более частым столкновениям и снижению подвижности.
Таким образом, зависимость подвижности от температуры имеет характерный максимум: сначала она растёт (при низких T), а затем уменьшается (при высоких T).
Подвижность носителей существенно зависит от качества кристалла.
При высоких концентрациях примесей наблюдается компенсация: уменьшение числа свободных носителей и одновременное падение подвижности.
Электроны и дырки обладают различной подвижностью.
Например, в кремнии при комнатной температуре подвижность электронов составляет порядка μn ≈ 1350 см2/(В·с), а подвижность дырок — μp ≈ 480 см2/(В·с).
Эта асимметрия оказывает важное влияние на проектирование электронных приборов, таких как полевые транзисторы и диоды.
Для определения подвижности носителей применяются несколько методов:
Метод Холла — наиболее распространённый. Основан на измерении поперечного напряжения, возникающего в проводнике с током, помещённом в магнитное поле. Подвижность определяется через коэффициент Холла и проводимость.
Метод времени пролёта — используется в слабопроводящих и органических полупроводниках. Измеряется время, за которое носитель проходит известное расстояние под действием электрического поля.
Методы СВЧ и оптические — позволяют исследовать подвижность на очень коротких временных масштабах, учитывая динамику носителей в высокочастотных полях.
Подвижность является определяющим параметром для работы большинства полупроводниковых устройств:
Особое значение имеет баланс между подвижностью и временем жизни носителей: в материалах для фотоприёмников и солнечных элементов требуется, чтобы носители могли проходить значительные расстояния до рекомбинации.