В полупроводниковой физике носители заряда (электроны и дырки) перемещаются под действием двух основных процессов: дрейфа в электрическом поле и диффузии вследствие градиента концентрации. Несмотря на различную физическую природу этих процессов, их коэффициенты оказываются связаны фундаментальным соотношением, установленным А. Эйнштейном. Это соотношение играет ключевую роль в описании транспорта носителей заряда и является прямым следствием статистической физики и теории флуктуаций.
Соотношение Эйнштейна выражается в виде:
$$ \frac{D}{\mu} = \frac{kT}{q}, $$
где
Это соотношение показывает, что движение носителей в полупроводнике определяется не только внешними воздействиями (полем или концентрационным градиентом), но и фундаментальными термодинамическими закономерностями.
Дрейфовый ток возникает из-за упорядоченного движения носителей под действием электрического поля:
Jдр = q nμE,
где n – концентрация носителей, E – напряжённость электрического поля.
Диффузионный ток обусловлен неравномерным распределением носителей и направлен из областей с высокой концентрацией в области с низкой:
$$ J_{\text{диф}} = q D \frac{dn}{dx}. $$
В термодинамическом равновесии токи, вызванные диффузией и дрейфом, компенсируют друг друга. Это условие равновесия лежит в основе вывода соотношения Эйнштейна.
Пусть существует равновесная система, где число носителей описывается статистикой Больцмана. При малом изменении химического потенциала μc (уровня Ферми для электронов в зоне проводимости) концентрация электронов может быть представлена как
$$ n(x) = n_0 \exp\!\left(-\frac{q \varphi(x)}{kT}\right), $$
где φ(x) – электростатический потенциал.
Если рассмотреть баланс токов:
$$ J = q n \mu E + q D \frac{dn}{dx}, $$
и потребовать равновесия (J = 0), то из связи $\frac{dn}{dx}$ с потенциалом φ(x) получается:
$$ \frac{D}{\mu} = \frac{kT}{q}. $$
Таким образом, равновесие между диффузией и дрейфом является прямым источником данного соотношения.
Соотношение Эйнштейна показывает, что отношение D/μ зависит исключительно от температуры и не зависит от структуры материала. При росте температуры величина kT/q увеличивается, что приводит к более интенсивной диффузии при фиксированной подвижности.
При комнатной температуре (300 K):
$$ \frac{kT}{q} \approx 0.0259 \, \text{В}. $$
Эта величина часто используется в инженерных расчетах как тепловое напряжение VT.
Оценка коэффициента диффузии. Измеряя подвижность носителей (μ), можно определить коэффициент диффузии без прямых экспериментов:
$$ D = \mu \frac{kT}{q}. $$
Диффузионная длина носителей. Длина диффузии L выражается через коэффициент диффузии и время жизни носителей:
$$ L = \sqrt{D \tau} = \sqrt{\mu \frac{kT}{q} \tau}. $$
Это фундаментальный параметр, определяющий эффективность фотопреобразователей, светодиодов и лазеров.
Проектирование приборов. Соотношение Эйнштейна используется при расчетах характеристик диодов, транзисторов и солнечных элементов. Например, ток насыщения в p-n-переходе напрямую связан с D и, следовательно, с μ.
Диагностика материалов. Измеряя подвижность и время жизни носителей, можно получать сведения о степени чистоты кристалла, уровне дефектов и примесей.
В ряде случаев простая форма соотношения нарушается:
Дегенерация носителей. При высоких концентрациях электронов или дырок (например, в сильно легированных полупроводниках) распределение носителей описывается статистикой Ферми–Дирака, и соотношение Эйнштейна приобретает более сложную форму с учётом интегралов Ферми.
Неоднородные и неравновесные системы. При сильных электрических полях и высоких уровнях инжекции носителей возможны отклонения от стандартного соотношения.
Двухмерные и квантовые структуры. В полупроводниковых наноструктурах (квантовые ямы, провода, точки) плотность состояний изменяется, и соотношение Эйнштейна должно модифицироваться с учетом квантовых эффектов.
Соотношение Эйнштейна является одним из фундаментальных связующих звеньев между термодинамикой и электрическими свойствами полупроводников. Оно позволяет не только объяснять равновесные процессы, но и проводить точные расчеты характеристик современных устройств – от кремниевых транзисторов до нанофотонных структур.
Его универсальность проявляется в том, что оно выводится из общих принципов статистической физики и применимо ко всем типам носителей и материалов, включая традиционные кремний и арсенид галлия, а также органические и двумерные полупроводники.