Критические поля играют фундаментальную роль в физике сверхпроводимости и магнитных явлений. Понятие критического поля связано с пределами, при которых материал сохраняет свои специфические магнитные или электрические свойства, прежде чем произойдет качественное изменение состояния, например, переход в нормальное состояние или разрушение сверхпроводимости.
Сверхпроводники первого рода характеризуются однородным распределением магнитного поля внутри материала до достижения критического значения. Ключевой характеристикой является критическое магнитное поле Hc, при котором сверхпроводник теряет свою сверхпроводимость и переходит в нормальное состояние.
Основные свойства критического поля Hc:
Температурная зависимость: Критическое поле уменьшается с увеличением температуры и исчезает при температуре Tc перехода в сверхпроводящее состояние. Вблизи Tc зависимость описывается формулой:
$$ H_c(T) = H_c(0)\left[1 - \left(\frac{T}{T_c}\right)^2\right] $$
где Hc(0) — критическое поле при абсолютном нуле.
Энергетическая интерпретация: Энергия магнитного поля, создаваемого внешним источником, при H > Hc превышает энергетическую разность между нормальным и сверхпроводящим состоянием. В результате возникает переход первого рода, сопровождающийся резким разрушением сверхпроводимости.
Магнитная восприимчивость: До Hc материал демонстрирует полное вытеснение магнитного поля (эффект Мейснера). После достижения Hc магнитное поле полностью проникает в образец.
Сверхпроводники второго рода обладают более сложным поведением в магнитном поле. Здесь выделяют два критических поля: нижнее Hc1 и верхнее Hc2.
Нижнее критическое поле Hc1:
Верхнее критическое поле Hc2:
Особенности вихревого состояния:
Энергетический подход:
Критическое поле определяется балансом между:
Переход происходит тогда, когда:
Fm ≥ Fs
Это равенство дает количественное определение критического поля.
Термодинамическая зависимость:
Магнитометрия: Измерение намагниченности образца при изменении внешнего поля позволяет выявить Hc, Hc1 и Hc2.
Электрические измерения: Резкое появление сопротивления при увеличении магнитного поля фиксирует критическое состояние.
Микроскопия вихрей: Использование методов визуализации, таких как сканирующая туннельная микроскопия, позволяет наблюдать формирование вихрей в сверхпроводниках второго рода.
Критические поля остаются ключевым понятием для понимания поведения материалов в магнитных полях, определяя границы их устойчивости и функциональные возможности в различных технологиях.