Магнитная анизотропия представляет собой зависимость магнитных свойств материала от направления магнитного поля относительно кристаллической решётки или структурных особенностей образца. Она является ключевым фактором, определяющим поведение ферромагнитных и ферримагнитных материалов, включая величину коэрцитивной силы, структуру доменов и процесс намагничивания.
Анизотропия проявляется как энергетическая разница при ориентации магнитного момента вдоль различных кристаллографических направлений. Эта энергия носит название энергии магнитной анизотропии и играет решающую роль в формировании магнитной структуры материала.
Кристаллическая (магнитокристаллическая) анизотропия Она связана с симметрией кристаллической решётки и взаимодействием спинового магнитного момента с электрическим полем решётки (спин–орбитальное взаимодействие).
Энергия магнитокристаллической анизотропии описывается через разложение по углам между вектором намагниченности и осями кристалла. Например, для кубической системы:
EK = K1(α12α22 + α22α32 + α32α12) + K2(α12α22α32) + …
где K1, K2 — константы анизотропии, αi — косинусы углов между магнитным моментом и кристаллографическими осями.
Форма (демагнитизационная) анизотропия Она обусловлена геометрией ферромагнитного образца и взаимодействием магнитного момента с собственным магнитным полем (демагнитизационным полем).
Для длинного цилиндра вдоль оси симметрии энергия минимальна, а для плоского диска намагничивание перпендикулярно плоскости приводит к максимальной энергии.
Энергия формы выражается как:
$$ E_d = \frac{1}{2} N M_s^2 $$
где N — тензор демагнитизации, Ms — насыщенная намагниченность.
Стрессовая (магнитоупругая) анизотропия Появляется при наличии внутренних напряжений или внешнего механического воздействия. Изменение ориентации магнитных моментов вызывает деформацию кристаллической решётки, и наоборот — механическая деформация влияет на ориентацию магнитных моментов.
Энергия стрессовой анизотропии:
$$ E_\sigma = - \frac{3}{2} \lambda_s \sigma \cos^2\theta $$
где λs — коэффициент магнитострикции, σ — механическое напряжение, θ — угол между напряжением и намагниченностью.
Индуцированная анизотропия Возникает при воздействии внешнего магнитного поля или технологических обработок (например, облучение, прокатка). Она определяется направлением индуцирующего поля и сохраняется даже после его снятия.
Энергия анизотропии определяет устойчивость магнитной ориентации и является ключевым параметром при изучении доменной структуры. Основные положения:
Для кристаллов с высокой симметрией (например, кубических) энергия анизотропии может быть мала, в то время как для низкосимметричных систем (тетрагональных, гексагональных) она значительно выше.
Магнитная анизотропия определяет ориентацию доменов и размеры доменных структур:
Для количественной оценки анизотропии применяются следующие методы:
Магнитометрия Измерение петли гистерезиса при различных ориентациях образца позволяет определить величину энергии анизотропии по изменению коэрцитивной силы и площади петли.
Резонансное поглощение микроволн (FMR) Позволяет точно определять константы магнитокристаллической анизотропии по частоте резонанса при известном внешнем поле.
Магнитооптические методы (MOKE) Используются для исследования поверхностной и тонкопленочной анизотропии, анализируя вращение поляризации света при намагничивании.
Энергия магнитной анизотропии сильно зависит от температуры:
При нагреве к температуре Кюри TC магнитная анизотропия снижается и исчезает выше TC.
Константы анизотропии могут иметь нелинейную зависимость от температуры:
$$ K(T) = K(0) \left(1 - \frac{T}{T_C}\right)^n $$
где показатель n зависит от типа анизотропии и кристаллической симметрии.
Магнитная анизотропия критически важна для проектирования:
Магнитная анизотропия является фундаментальным параметром, который связывает кристаллографию, микро- и макроструктуру с магнитными свойствами, определяя устойчивость и динамику намагничивания.