Дифракционные решетки являются ключевыми элементами оптики синхротронного излучения в области мягкого рентгена (с энергиями фотонов от ~50 эВ до ~2 кэВ). Их основная функция заключается в пространственном разложении полихроматического рентгеновского излучения на отдельные спектральные компоненты с высоким разрешением. В отличие от видимого света, где классические отражательные или пропускные решетки применяются с периодами порядка микрон, для мягкого рентгена требуются периодические структуры с характерными размерами в диапазоне десятков нанометров.
Дифракционная решетка представляет собой периодическую структуру, в которой чередуются области с разной фазовой или амплитудной прозрачностью для рентгеновского излучения. При падении когерентного пучка на решетку происходит интерференционное распределение интенсивности в различных направлениях, описываемое уравнением Брэгга для решеток:
nλ = d(sin θi + sin θd)
где n — порядок дифракции, λ — длина волны рентгеновского излучения, d — период решетки, θi и θd — углы падения и дифракции относительно нормали к решетке.
1. Рефлективные (гратинговые) решетки Изготавливаются из твердых материалов с высоким атомным номером, например, золота, палладия или никеля, на подложках из кремния или стекла. В мягком рентгене такие решетки работают на принципе отражения под малым углом (графические решетки с “гратинговой” структурой). Они обладают высокой эффективностью для одного направления дифракции, но требуют точного контроля угла падения и качества поверхности.
2. Трансмиссионные решетки Проходные решетки выполняются из тонких мембран с нанопериодическими прорезями. Основное преимущество — возможность получения нескольких дифракционных порядков без использования больших углов падения. Однако из-за тонкой конструкции их эффективность может быть ограничена поглощением рентгеновских фотонов.
3. Многослойные и фазовые решетки Современные технологии позволяют создавать решетки с чередующимися тонкими слоями материалов с различным коэффициентом преломления для рентгеновских лучей. Такие структуры позволяют управлять фазой падающего излучения, увеличивая дифракционную эффективность и обеспечивая селективность по длине волны.
Разрешающая способность решетки R определяется выражением:
$$ R = \frac{\lambda}{\Delta \lambda} = n N $$
где n — порядок дифракции, N — число активных бороздок. Для мягкого рентгена достигаются значения R ∼ 103–104, что позволяет детально исследовать спектральные линии атомов легких элементов и особенности поглощения вблизи K- и L-поглощений.
Эффективность решетки зависит от:
Многослойные фазовые решетки позволяют достигать эффективностей до 40–50 % для первого порядка дифракции в мягком рентгене, что критически важно для экспериментов с низкой интенсивностью источника.
Дифракционные решетки находят применение в:
Особое внимание уделяется управлению гомогенной освещенностью и минимизации аберраций, таких как кома и астигматизм, особенно при работе с малым углом падения, где отражательные решетки наиболее эффективны.