Синхротронное излучение представляет собой электромагнитное излучение, испускаемое заряженными частицами (обычно электронами) при их ускорении по криволинейной траектории в магнитном поле. Его ключевыми характеристиками являются высокая интенсивность, коллимированность, широкая спектральная гамма (от инфракрасного до рентгеновского диапазона) и высокая поляризация. Эти свойства делают синхротронный источник незаменимым инструментом для анализа поверхностей и материалов с высокой пространственной и временной разрешающей способностью.
Ключевые моменты:
Коррозия — это химическое или электрохимическое разрушение материалов под воздействием окружающей среды. Синхротронное излучение позволяет изучать этот процесс с высокой точностью на уровне атомов и молекул.
1. Рентгеновская микроскопия (XRM) Использует мягкое и жесткое рентгеновское излучение для визуализации структуры материала. Применяется для изучения:
2. Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия (XRF) Позволяет определить химический состав поверхностного слоя и распределение элементов с высоким пространственным разрешением. Применение:
3. Рентгеновская дифракция (XRD) с синхротронным излучением Позволяет исследовать кристаллическую структуру коррозионных продуктов, определять фазы оксидов и сульфидов, а также отслеживать динамику их формирования.
4. Спектроскопия поглощения рентгеновских лучей (XAS, включая XANES и EXAFS) Обеспечивает информацию о состоянии окисления и локальной структуре атомов в коррозионных продуктах. Применение:
Износ — это механическое разрушение поверхности материала под действием трения, ударов, абразивных частиц или комбинации факторов. Синхротронные методы позволяют анализировать как макро-, так и микроструктурные изменения при износе.
1. Микроскопия синхротронного типа Используется для получения 3D-реконструкций поверхности с нанометрическим разрешением, что позволяет:
2. Рентгеновская томография (X-ray CT) Позволяет проводить неразрушающий контроль толщины защитных слоев и выявлять внутренние дефекты, появляющиеся при износе.
3. Спектроскопия отражения и рассеяния Используется для анализа изменений химического состава и структуры поверхности в результате эрозии, окисления или адгезии абразивных частиц.