Каталитические процессы протекают на поверхности твердых материалов, где локальные атомные конфигурации и электронные состояния играют решающую роль в активности и селективности катализатора. Синхротронное излучение благодаря высокой яркости, широкому энергетическому диапазону и возможности получения когерентного рентгеновского пучка предоставляет уникальные инструменты для изучения поверхностных явлений и реакций в режиме in situ и operando. Это позволяет наблюдать динамику химических процессов в реальном времени при условиях, максимально приближенных к промышленным.
Одним из ключевых методов исследования поверхностей является рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, в которой используется высокая интенсивность синхротронного излучения. Основные преимущества XPS при работе на синхротронных источниках:
XAS (X-ray Absorption Spectroscopy) позволяет исследовать локальное окружение атомов катализатора, а также электронную структуру активных центров. Метод разделяется на:
При помощи этих методов возможно определить:
Поверхностная рентгеновская дифракция (SXRD) используется для исследования атомной упорядоченности на поверхности катализаторов. Она позволяет:
Малоугловое рентгеновское рассеяние (SAXS) дает информацию о размерах и формах наночастиц катализатора, а также о динамике их агрегации и разрушения.
Синхротронное излучение используется также для рентгеновской фотоэлектронной эмиссионной микроскопии (XPEEM), которая сочетает химическую чувствительность XPS с пространственным разрешением. Это позволяет получать изображения распределения активных центров на поверхности катализатора с нанометровым разрешением.
Сканирующая рентгеновская микроскопия дает возможность визуализировать неоднородность состава и электронного состояния катализатора на микро- и наноуровне, что особенно важно для понимания роли дефектов, границ зерен и неоднородных фаз.
Одним из наиболее значимых направлений является развитие методов operando-спектроскопии и дифракции, позволяющих наблюдать работу катализатора непосредственно в процессе химической реакции. Для этого создаются специальные ячейки высокого давления и температуры, в которых можно проводить:
Это открывает возможность установления прямой связи между структурой активного центра и его каталитической функцией.
Современные источники четвёртого поколения предоставляют когерентное излучение высокой яркости, что позволяет использовать такие методы, как когерентная дифракционная рентгеновская визуализация (CDI). Данный метод применяется для изучения:
Исследования катализаторов с помощью синхротронной радиации имеют фундаментальное и прикладное значение:
Эти подходы делают синхротронное излучение одним из центральных инструментов современной науки о катализе и поверхностных явлениях, объединяя фундаментальные физические методы и прикладные задачи материаловедения.