Угловое разрешение в фотоэмиссии является критически важным параметром при изучении электронных структур материалов. Оно определяет способность экспериментальной установки различать электроны, вылетающие под различными углами относительно поверхности образца, что напрямую связано с исследованием дисперсии энергетических зон и формой фрагментов поверхности Ферми.
Угловое разрешение (Δθ) напрямую влияет на точность измерения компонент квазиимпульса электрона:
$$ k_\parallel = \frac{\sqrt{2 m E_{kin}}}{\hbar} \sin \theta $$
где Ekin — кинетическая энергия фотоэлектрона, θ — угол вылета относительно нормали поверхности. Погрешность в измерении θ трансформируется в погрешность определения k∥:
$$ \Delta k_\parallel = \frac{\sqrt{2 m E_{kin}}}{\hbar} \cos \theta \, \Delta \theta $$
Из этого следует, что даже небольшие ошибки в угловом измерении могут привести к значительным искажениям в реконструкции зонной структуры, особенно при высоких значениях k∥.
Геометрия детектора Современные ARPES (Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy) спектрометры используют дискретные детекторы или позиционно-чувствительные камеры, обеспечивающие угловое разрешение до 0.1°–0.2°.
Энергия фотоэлектронов При увеличении кинетической энергии фотоэлектронов малые угловые отклонения приводят к большему изменению k∥. Таким образом, для высокоэнергетических экспериментов требуется более точное угловое разрешение.
Размер источника и точность выравнивания Ширина источника света и точность выравнивания поверхности образца определяют минимально достижимое Δθ. Неровности поверхности и тепловые колебания могут дополнительно снижать угловое разрешение.
Оптическая система Линзы, монохроматоры и зеркала, используемые для фокусировки и направления синхротронного излучения, также вносят вклад в суммарное угловое разрешение системы.
Высокое угловое разрешение критически важно для:
Хотя угловое и энергетическое разрешения часто рассматриваются отдельно, они взаимосвязаны через спектрометр:
$$ \Delta E \approx \frac{\partial E}{\partial \theta} \Delta \theta $$
В системах с высокой дисперсией даже небольшое угловое смещение приводит к значительному энергетическому размытию, что особенно важно для тонких структурных и электронных особенностей.