Временно-разрешенная XAFS (Time-Resolved X-ray Absorption Fine Structure, TR-XAFS) спектроскопия представляет собой метод, позволяющий исследовать динамические изменения локальной структуры атомов в материалах с высоким временным разрешением. Этот подход расширяет традиционную XAFS-спектроскопию, которая фиксирует усреднённую информацию о положении атомов, за счёт возможности наблюдать процессы, протекающие на временных масштабах от фемтосекунд до миллисекунд и дольше.
Временной разрешающий аспект достигается с использованием синхротронного излучения или свободно-электронных лазеров (XFEL), которые обеспечивают интенсивные и короткие импульсы рентгеновского излучения. Основная задача TR-XAFS — наблюдение за изменениями в координационной сфере центрального атома, длинах и распределениях связей, а также за динамикой электронных состояний в процессе химических реакций, фазовых переходов и структурных преобразований.
Pump–Probe метод Наиболее распространённая техника TR-XAFS основана на схемах pump–probe. Здесь система сначала возбуждается «накачивающим» импульсом (pump), например, лазерным или электрическим, вызывающим переход в возбужденное состояние или инициирующим реакцию. Через заданный временной интервал фиксируется «зондирующий» импульс рентгеновского излучения (probe), регистрирующий спектр поглощения в данный момент времени.
Ключевые параметры метода:
Стробоскопическая техника Для периодических процессов (например, колебаний кристаллической решётки) используется многократное повторение pump–probe цикла с накоплением сигналов. Это позволяет улучшить соотношение сигнал/шум и реконструировать изменения структуры с точностью до нескольких пикосекунд.
Фазовая синхронизация и корреляционный анализ Для процессов, протекающих на более коротких временных масштабах (фемтосекунды), применяются методы синхронизации фаз импульсов XFEL с возбуждением образца. Сбор данных с последующим корреляционным анализом позволяет выделить преходящие состояния атомной структуры.
Временно-разрешенные XAFS спектры характеризуются изменением двух ключевых компонентов:
XANES (X-ray Absorption Near Edge Structure)
EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure)
Синхротронные станции
Свободно-электронные лазеры (XFEL)
Детекторы и схемы регистрации
TR-XAFS позволяет выявить детали, которые недоступны статическим методам, включая пути реакций, временные асимметрии в распределении связей и электронные перестройки.